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膜厚測定 素材分析 微⼩硬さ試験 材料試験

膜厚測定

電磁式
（電磁誘導式） 渦電流式膜厚計
（渦電流振幅感応式） 渦電流位相式
（渦電流位相変位感応式） 蛍光Ｘ線式膜厚計・素材分析
（蛍光Ｘ線スペクトル分析法） 電気抵抗式膜厚計 磁気式膜厚計（ホール効果） 電解式（電量分析式）

電解式（電量分析式）

COULOSCOPE® CMS2

COULOSCOPE® CMS2

電解式（電量分析式）の破壊式膜厚計です。鉄上の亜鉛や銅上のSn/Niなど単層あるいは多層皮膜の金属皮膜について電解式による膜厚を測定することができます。
COULOSCOPE® CMS2 STEP

COULOSCOPE® CMS2 STEP

DIN EN ISO2177およびASTM B764-04、DIN EN 16866に準拠したSTEPテストにより多層皮膜の電位差を測定します。自動車産業におけるCrモールド（複層Ni）のようなコーティングした部品の検査などに最適です。

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