このたび弊社は、来る2019年1月16日（水）～18（金）、東京ビックサイトにて開催されます「第36回エレクトロテスト ジャパン」に出展いたします。

この展示会は、エレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術展であり、また総称「ネプコンジャパン」と題して、関連16展が併催されるエレクトロニクス開発・実装・検査に関するアジア最大級の専門展です。
弊社では、蛍光X線式膜厚測定器、小型膜厚計、材料試験器、微小硬さ試験機など新製品を含め一同に出展いたします。

皆さまのご来場を心よりお待ちしております。

日　　時　：2018年1月16日（水）～18日（金）10時～18時（最終日：17時まで）
場　　所　：東京ビックサイト
ブース番号：東3ホール　E19-20
本展公式ホームページ： https://www.electrotest.jp/ja-jp.html

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