このたび弊社は、来る2017年1月23日（月）～26（木）、東京ビックサイトにて開催されます「第28回国際宝飾展2017」へ出展いたします。
貴金属、ジュエリーなどをすばやく非破壊検査で鑑別する蛍光X線分析器や貴金属コインから大きな金塊の真偽判別検査するための検査機器を展示いたします。

皆さまのご来場を心よりお待ちしております。

日　　時　：2017年1月23日（月）～26日（木）10時～18時（最終日のみ17時まで）
場　　所　：東京ビックサイト
ブース番号：B9-52
本展公式ホームページ： http://www.ijt.jp/

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株式会社フィッシャー・インストルメンツ
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